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單項(xiàng)選擇題

芯片與探測(cè)面平行，使超聲波垂直與探測(cè)進(jìn)入材料的檢驗(yàn)方法稱(chēng)為（）。

A.直射法
B.斜射法
C.表面波法
D.上述三種都不對(duì)

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單項(xiàng)選擇題

射線源的尺寸過(guò)大，采用（）方法彌補(bǔ)。

A.增加射線源到被檢物體的距離
B.加鉛屏
C.增加半影
D.增加被檢膠片的距離

單項(xiàng)選擇題

射線照片圖像的密度是指（）。

A.膠片厚度
B.試件厚度
C.膠片的品質(zhì)
D.膠片的黑度