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判斷題

提高探頭頻率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探測能力

答案：錯(cuò)誤

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用AVG方法進(jìn)行定量評定時(shí)，不考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果比考慮材質(zhì)衰減的缺陷定量結(jié)果偏大

答案：正確

磁粉探傷中，凡有磁痕的部位都是缺陷

答案：錯(cuò)誤