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紅外檢測一般發(fā)熱缺陷指設(shè)備存在過熱、有較大溫差、有一定溫升。
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判斷題
綜合致熱型設(shè)備發(fā)熱的原因可能包括電流效應(yīng)、電磁效應(yīng)、電壓效應(yīng)。
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判斷題
紅外熱像檢測表面溫度判斷法主要適用于電壓致熱型;綜合致熱型引起發(fā)熱的設(shè)備。
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