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問答題

【簡答題】在超聲波探傷中，雙晶探頭用于探測工件中什么部位的缺陷？

答案：

雙晶探頭用于探測工件近表面缺陷。

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【簡答題】在超聲波探傷中，直探頭能發(fā)現什么樣的缺陷？

答案：

主要用于探測與探測面平行的缺陷。

【簡答題】在探傷掃查中，探頭的掃查方向怎樣確定？

答案：

探頭的方向（尤其是斜探頭）應根據缺陷存在的規(guī)律進行布局和掃查。