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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】斜探頭主要用于探測(cè)哪些類(lèi)型的缺陷？

答案：

斜探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷。

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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】一般工件厚度較小時(shí)，怎樣避免近場(chǎng)區(qū)探傷？

答案：

一般工件厚度較小時(shí)，選用較大的K值，以便增加一次波的聲程，避免近場(chǎng)區(qū)探傷。

問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】大尺寸探頭晶片的優(yōu)點(diǎn)有哪些？

答案：

輻射的超聲波能量大，探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大，遠(yuǎn)距離掃查范圍相對(duì)變小，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強(qiáng)。