從可檢測(cè)的最小缺陷尺寸的意義上說(shuō)，射線照相靈敏度取決于底片上缺陷影響的對(duì)比度。

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與射線照相法相比，熒光屏觀察法的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)速度快，可即時(shí)判別，但靈敏度較低，難以將缺陷永久記錄保存。

答案：錯(cuò)誤