A、沒有特定方式 B、大平底方式和試塊方式 C、槽形反射孔方式 D、以上都可以
A、工件內(nèi)有大缺陷 B、靈敏度過高 C、晶粒粗大和樹枝狀結(jié)晶
A、連續(xù)波顯示 B、A掃描顯示 C、B掃描顯示 D、C掃描顯示