A、平行于探測(cè)面的缺陷 B、與探測(cè)面傾斜的缺陷 C、垂直于探測(cè)面的缺陷 D、不能用斜探頭檢測(cè)的缺陷
A、縱向缺陷 B、橫向缺陷 C、表面缺陷 D、以上都是
A、AVG曲線 B、參考試塊 C、工件的大平底 D、以上都是