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單項選擇題

CSK-IB試塊將IIW試塊的Φ50孔改為Φ40、Φ44、Φ50臺階孔，其目的是（）

A、測定斜探頭K值
B、測定直探頭盲區(qū)范圍
C、測定斜探頭分辨力
D、以上全是

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單項選擇題

CSK-IIIA試塊上的Φ1x6mm橫孔，在超聲遠(yuǎn)場，其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與（）相同

A、長橫孔
B、平底孔
C、球孔
D、b和c

在按鋼板標(biāo)準(zhǔn)計算缺陷面積時，若兩塊缺陷的間距小于（）時，這兩塊缺陷可作為（）處理，其面積為（）

答案： 100mm；單塊缺陷；兩塊缺陷面積之和