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判斷題

探測(cè)粗晶材料時(shí)，通常采用較低頻率的探頭是為了減小衰減。

答案：正確

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表面波只能在材料的表面?zhèn)鞑ィ圆荒馨l(fā)現(xiàn)距探測(cè)面大于一個(gè)表面波長(zhǎng)的缺陷。

答案：正確

材料的聲阻抗主要與頻率有關(guān)。

答案：錯(cuò)誤