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容易探測到的缺陷尺寸一般不小于超聲波長的一半。
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鍛件中缺陷的取向通常為平行于晶粒流向。
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超聲波從材料1進入材料2,隨聲阻抗比Z1/Z2的增大而透過的聲壓增大。
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