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單項(xiàng)選擇題

滲透檢測(cè)法適用于檢驗(yàn)的缺陷是（）。

A.表面開口缺陷
B.近表面缺陷
C.內(nèi)部缺陷
D.以上都對(duì)

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單項(xiàng)選擇題

工件中缺陷的取向與X射線入射方向（）時(shí)，在底片上能獲得最清晰的缺陷影像。

A.垂直
B.平行
C.傾斜45°
D.都可以

單項(xiàng)選擇題

X射線照相的主要目的是（）。

A.檢驗(yàn)晶粒度
B.檢驗(yàn)表面質(zhì)量
C.檢驗(yàn)內(nèi)部質(zhì)量
D.以上全是