上下兩個(gè)測(cè)點(diǎn)測(cè)值之和,應(yīng)當(dāng)近似等于左右兩個(gè)測(cè)點(diǎn)測(cè)值之和。
因?yàn)榇颂幨菓?yīng)力集中區(qū),容易產(chǎn)生裂紋。