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臺(tái)式X射線熒光鍍層測(cè)厚儀和手持式X射線熒光光譜儀相比,更適合不規(guī)則樣品的鍍層檢測(cè)。
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手持式X射線熒光光譜儀測(cè)金屬鍍層厚度,不受基體金屬的種類影響。
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手持式X射線熒光光譜儀的小點(diǎn)模式功能,能避免因材料成分不均勻而引起的檢測(cè)誤差。
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