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問答題

【簡答題】TB/T2340-2000標(biāo)準(zhǔn)對儀器的保護(hù)膜衰減是怎樣測試的?

答案: 用帶保護(hù)膜的70°探頭探測CSK-1A試塊R100圓弧面,使最高反射波達(dá)到80%記下此讀數(shù)W1,然后去掉保護(hù)膜,...
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【簡答題】超聲波探頭的壓電晶片的振動頻率與晶片厚度有什么關(guān)系?

答案:

壓電晶片的振動頻率與晶片厚度成反比關(guān)系,即晶片厚度越薄,振動頻率越高,反之,晶片越厚,振動頻率越低。

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【簡答題】如何在CSK-1A試塊上測試斜探頭的入射點和前沿長度?

答案: (1)將探頭置于CSK-1A試塊上前后移動使R100曲面反射回波最大,此時斜探頭底面與試塊圓心相交點即為入射點。
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