A、UE測(cè)試小區(qū)是由系統(tǒng)消息下發(fā)鄰區(qū)包含的小區(qū)，SCANNER測(cè)試小區(qū)不是由系統(tǒng)下發(fā)來(lái)定，是由測(cè)試軟件設(shè)定
B、在漏配鄰區(qū)情況下，SCANNER同樣可以對(duì)漏配的鄰小區(qū)進(jìn)行測(cè)量，不會(huì)影響其正常測(cè)試
C、采用SCANNER可以確定某個(gè)小區(qū)沒(méi)有功率發(fā)出的故障，UE往往不能確定某小區(qū)是功率發(fā)射問(wèn)題，還是存在其他網(wǎng)絡(luò)問(wèn)題導(dǎo)致UE無(wú)法收到下行功率
D、在網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化中，SCANNER可以代替UE進(jìn)行測(cè)試，可以用SCANNER來(lái)統(tǒng)計(jì)KPI指標(biāo)
E、導(dǎo)頻污染是采用SCANNER測(cè)試數(shù)據(jù)來(lái)統(tǒng)計(jì)，UE測(cè)試數(shù)據(jù)作為輔助參考

A、天線的增益
B、波瓣寬度
C、下頃角度
D、方向角度
E、天線掛高