A.提出假設(shè)H0:μ≤100;H1:μ>100
	B.提出假設(shè)H0:μ≥100;H1:μ<100
	C.檢驗(yàn)統(tǒng)計(jì)量及所服從的概率分布為
	D.如果Z>Zα,則稱 與μ0的差異是顯著的,這時(shí)拒絕H0
與μ0的差異是顯著的,這時(shí)拒絕H0
	E.檢驗(yàn)結(jié)果認(rèn)為該類型的電子元件的使用壽命確實(shí)有顯著提高
 
                            	小樣本情況下,總體均值檢驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)量可能為()。
	
	A.A
	B.B
	C.C
	D.D
	E.E
