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判斷題

幾個(gè)試品并聯(lián)在一起進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，若測得泄漏電流為I，則流過一每個(gè)試品的電流都小于I。

答案：正確

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測量電氣設(shè)備的泄漏電流比兆歐表發(fā)現(xiàn)電氣設(shè)備的絕緣缺陷的有效性高，這是因?yàn)槲脖淼撵`敏度高。

答案：錯(cuò)誤

進(jìn)行直流耐壓試驗(yàn)時(shí)，一般是將硅堆的負(fù)極接試品。

答案：錯(cuò)誤