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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述射線照相檢驗(yàn)法的原理

答案：射線在透照工件時(shí)，由于射線能量衰減程度與材料密度和厚度有關(guān)，所以有缺陷部位與無(wú)缺陷部位對(duì)射線能量的吸收不同，因而透過(guò)有缺...

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單項(xiàng)選擇題

適用于滲透檢測(cè)法的缺陷是（）

A.表面開口缺陷
B.近表面缺陷
C.內(nèi)部缺陷
D.以上都對(duì)

單項(xiàng)選擇題

工業(yè)超聲波檢測(cè)中，產(chǎn)生和接收超聲波的方法，最經(jīng)常利用的是某些晶體的（）

A.電磁效應(yīng)
B.磁致伸縮效應(yīng)
C.壓電效應(yīng)
D.磁敏效應(yīng)