A、磁粉射線 B、超聲波探傷 C、X射線探傷 D、Y射線探傷
A、機(jī)械動(dòng)作 B、正常運(yùn)轉(zhuǎn) C、運(yùn)轉(zhuǎn)機(jī)械 D、整體運(yùn)輸
A、內(nèi)部缺陷 B、外部缺陷 C、表面缺陷 D、低部缺陷