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填空題
測(cè)試的目的在于（），因?yàn)闇y(cè)試發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤和更正錯(cuò)誤的過程，而不能表明軟件程序的（）。而且在軟件開發(fā)的過程中，每個(gè)不同的階段對(duì)于錯(cuò)誤的解決代價(jià)是不同的，在（）發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤更正代價(jià)是相對(duì)較小的，等整個(gè)系統(tǒng)都完成了，再發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤其代價(jià)相對(duì)就比較大了。
答案：
盡可能多的發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤；無錯(cuò)；早期
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填空題
耦合度可以分成7個(gè)級(jí)別，從高到低依次為：內(nèi)容耦合、（）、外部耦合、控制耦合、（）、（）、非直接耦合
答案：
公共耦合；標(biāo)記耦合；數(shù)據(jù)耦合
