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問答題

【簡答題】測試的一般要求。

答案：必須按照微電子器件試驗方法的軍用國家標準進行測試，其中就對測試環(huán)境提出了嚴格的要求，這樣可以避免外界因素對器件造成的誤差...

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【簡答題】IIH/IIL集體測試法優(yōu)缺點。

答案：優(yōu)點：能在短時間內迅速進行漏電流的測試。
缺點：
1.測試對象有限，只能運用于高輸入阻抗的器件；

【簡答題】IIL串行測試方法。

答案： 1、電源端施加VDDmax；
2、所有的輸入管腳施加VIH預置為邏輯1狀態(tài)；
3、對待測管腳施加低電...