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填空題

接觸法探傷，對(duì)大于聲束直徑的缺陷，可用（）法或叫半波高度法測(cè)定缺陷大小。

答案： 6db

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采用接觸法超探，探測(cè)距離大時(shí)，為獲得較集中的能量，應(yīng)選用（）直徑的晶片。

答案：較大

采用接觸法超探，探測(cè)近距離（或小直徑）工件時(shí)，為獲得較大聲場(chǎng)范圍，可選用（）直徑的晶片。

答案：較小