- 搜標(biāo)題
- 搜題干
- 搜選項(xiàng)
問答題
【簡答題】電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定環(huán)境空氣總懸浮顆粒物中金屬和非金屬樣品時(shí)，如何校正ICP-AES法的非光譜干擾？
答案：
優(yōu)化實(shí)驗(yàn)條件、選擇最佳工作參數(shù)或采用基體匹配法和標(biāo)準(zhǔn)加入法校正非光譜干擾。
你可能感興趣的試題
問答題
【簡答題】簡述用ICP法測定空氣濾膜樣品時(shí)的主要分析操作步驟。
答案：
（1）先設(shè)定儀器最佳工作參數(shù)，再進(jìn)行儀器校正，即進(jìn)行相應(yīng)的光路準(zhǔn)直和標(biāo)準(zhǔn)化。
（2）分析樣品空白溶液，檢查樣品...
（2）分析樣品空白溶液，檢查樣品...
