是一種毛細(xì)作用原理為基礎(chǔ),用于檢查非疏孔性金屬和非金屬試件表面開口缺陷的無損檢測方法。
由于滲透劑污染等所引起的滲透劑顯示。
磁粉檢測時(shí)由缺陷產(chǎn)生的漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。