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單項選擇題

檢工件晶粒粗大，通常會引起（）

A.草狀回波增多
B.信噪比下降
C.底波次數(shù)減少
D.以上全部

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單項選擇題

影響直接接觸法耦合損耗的原因有（）

A.耦合層厚度，超聲波在耦合介質中的波長及耦合介質聲阻抗
B.探頭接觸面介質聲阻抗
C.工件被探測面材料聲阻抗
D.以上都對

單項選擇題

在直探頭探傷時，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是（）

A.與表面成較大角度的平面缺陷
B.反射條件很差的密集缺陷
C.AB都對
D.AB都不對