A.不接觸被測(cè)設(shè)備,不干擾、不改變?cè)O(shè)備運(yùn)行狀態(tài) B.精確、快速、靈敏度高 C.成像鮮明,能保存記錄,信息量大,便于分析 D.發(fā)現(xiàn)和檢出設(shè)備熱異常、熱缺陷的能力差
A.是非接觸測(cè)量、操作安全、不干擾設(shè)備運(yùn)行 B.不受電磁場(chǎng)干擾 C.不比蠟試溫度準(zhǔn)確 D.對(duì)高架構(gòu)設(shè)備測(cè)量方便省力
A.選相倒相法:正、反相測(cè)得值的差別較大,有時(shí)可達(dá)±50%及以上; B.外加反干擾電源補(bǔ)償法:補(bǔ)償電源與干擾信號(hào)間的相位有不確定性 C.變頻測(cè)量方法:測(cè)量的穩(wěn)定性、重復(fù)性及準(zhǔn)確性較差 D.過(guò)零比較"檢測(cè)方法:測(cè)量結(jié)果的分散性稍大