A.使用測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)的目的是為了識(shí)別測(cè)試條件和開發(fā)測(cè)試用例
B.黑盒測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)是依據(jù)分析測(cè)試基礎(chǔ)文檔來選擇測(cè)試條件、測(cè)試用例或測(cè)試數(shù)據(jù)的技術(shù)
C.白盒測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)是基于分析被測(cè)組件或系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的測(cè)試技術(shù)
D.系統(tǒng)測(cè)試主要使用黑盒測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)，組件測(cè)試主要使用白盒測(cè)試設(shè)計(jì)技術(shù)