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問(wèn)答題

【計(jì)算題】用Φ14，2.5MHz直探頭探測(cè)一工件時(shí)，利用距探測(cè)面200mm的Φ4平底孔試塊，調(diào)節(jié)儀器，使Φ4孔反射高為滿(mǎn)刻度的80%，發(fā)現(xiàn)一缺陷距探測(cè)面100mm，缺陷反射波高為滿(mǎn)刻度20%，求此缺陷當(dāng)量大?。?/h4>

答案：

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