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單項(xiàng)選擇題

對(duì)鍍銀層厚度測(cè)量方法存在質(zhì)疑時(shí)，可使用以下哪種方法進(jìn)行驗(yàn)證（）

A.庫(kù)倫法
B.X射線熒光法
C.高倍顯微鏡法
D.稱重法

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單項(xiàng)選擇題

隔離開(kāi)關(guān)鍍銀層厚度檢測(cè)使用X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，通過(guò)從被檢件上反射的二次X射線強(qiáng)度測(cè)量鍍銀層厚度，檢測(cè)范圍可達(dá)（）µm。

A.0.1-5
B.0.01-5
C.0.1-50
D.0.01-50

單項(xiàng)選擇題

電網(wǎng)設(shè)備的光譜分析檢驗(yàn)常用哪種設(shè)備（）

A.看譜鏡
B.光電光譜分析儀
C.手持式X射線光譜儀
D.熒光光譜儀