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問答題
各個(gè)方向都能探測(cè)到的是缺陷是平面狀缺陷（）
此題為判斷題(對(duì)，錯(cuò))。
答案：
平面狀缺陷，如裂紋、夾雜、分層等，由于其形狀和方向，從不同的角度探測(cè)時(shí)，反射的超聲波信號(hào)會(huì)有所不同。但是，如果這些缺陷足...
