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問答題

探頭探測與波束軸線垂直的缺陷最易發(fā)現(xiàn)()


此題為判斷題(對,錯)。
答案: 在無損檢測中,使用探頭探測材料內(nèi)部的缺陷時,探頭發(fā)射的超聲波束與缺陷的相對位置會影響缺陷的檢出能力。當(dāng)探頭探測到的波束軸...
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