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判斷題

為了減少來自元件本身散射線對底片質(zhì)量的影響，經(jīng)常采用的措施是鉛板遮蓋工件非透照部分。

答案：正確

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從可檢測的最小缺陷尺寸的意義上說，射線照相靈敏度取決于底片上缺陷影響的對比度。

答案：正確

與射線照相法相比，熒光屏觀察法的優(yōu)點(diǎn)是檢測速度快，可即時(shí)判別，但靈敏度較低，難以將缺陷永久記錄保存。

答案：正確