A、III區(qū)的缺陷 B、II區(qū)的缺陷 C、定量線及定量線以上的缺陷 D、I區(qū)的缺陷
A、單個缺陷反射波幅 B、缺陷引起的底波降低量 C、缺陷密集區(qū)占探傷總面積百分比 D、以上都可以作為獨(dú)立評級的依據(jù)
A、≥Φ3mm當(dāng)量的密集區(qū) B、當(dāng)量>Φ4mm的單個缺陷 C、當(dāng)量等于Φ4mm的缺陷密集區(qū) D、b和c