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電參數(shù)漂移:主要原因是()、()等。
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原材料缺陷;可移動離子引起的反應
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機械磨損和封裝裂縫:主要由()和()等造成。
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封裝工藝缺陷;環(huán)境應力過大
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引線折斷:主要原因有(),(),()和()和()等。
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線徑部?。灰€強度不夠;熱點應力;機械應力過大;電蝕
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